Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Servín, Manuel (Yazar), Quiroga, J. Antonio (Yazar), Padilla, J. Moises (Yazar)
Materyal Türü: Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:1 online resource (345 pages) : illustrations
Bibliyografya:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9783527681082 (e-book)