Kansikuva

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Näytä muut versiot (1)
Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijät: Servín, Manuel (Tekijä), Quiroga, J. Antonio (Tekijä), Padilla, J. Moises (Tekijä)
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014.
Aiheet:
Diffraction patterns > Data processing.
Image processing > Data processing.
Electronic books.
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Kuvaus
Ulkoasu:1 online resource (345 pages) : illustrations
Bibliografia:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9783527681082 (e-book)

Samankaltaisia teoksia