Reliability modeling with applications : essays in honor of Professor Toshio Nakagawa on his 70th Birthday /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy: Nakamura, Syouji, Qian, Cun Hua, Chen, Mingchih
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: New Jersey : World Scientific, [2014]
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
Search Result 1