Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /

-д хадгалсан:
Номзүйн дэлгэрэнгүй
Байгууллагын зохиогч: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Miyazaki-shi, Japan
Бусад зохиолчид: Yamada-Kaneta, Hiroshi, Sakai, Akira (Professor of engineering science)
Формат: Цахим Бага хурлын үйл явц Цахим ном
Хэл сонгох:англи
Хэвлэсэн: Durnten-Zurich ; Enfield, NH : Trans Tech Publications, [2012]
Цуврал:Materials science forum ; v. 725.
Нөхцлүүд:
Онлайн хандалт:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Шошгууд: Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!