Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /
Gorde:
| Erakunde egilea: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | , |
| Formatua: | Baliabide elektronikoa Konferentzia-aktak eBook |
| Hizkuntza: | ingelesa |
| Argitaratua: |
Durnten-Zurich ; Enfield, NH :
Trans Tech Publications,
[2012]
|
| Saila: | Materials science forum ;
v. 725. |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Izan zaitez lehena ohar bat uzten!