Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors XIV : selected, peer reviewed papers from the 14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, September 25-29, 2011. Miyazaki, Japan /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors Miyazaki-shi, Japan
Άλλοι συγγραφείς: Yamada-Kaneta, Hiroshi, Sakai, Akira (Professor of engineering science)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Πρακτικό Συνεδρίου Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Durnten-Zurich ; Enfield, NH : Trans Tech Publications, [2012]
Σειρά:Materials science forum ; v. 725.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!