Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /
"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Співавтор: | |
| Формат: | Електронний ресурс eКнига |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
John Wiley & Sons Inc.,
2014.
|
| Серія: | ESD series
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Будьте першим, хто залишить коментар!