Зображення обкладинки

QR код

Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Автор:	Voldman, Steven H.
Співавтор:	ebrary, Inc
Формат:	Електронний ресурс eКнига
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Серія:	ESD series
Предмети:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
Онлайн доступ:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

Схожі ресурси

ESD failure mechanisms and models /
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2009)

An introduction to the physics and electrochemistry of semiconductors : fundamentals and applications /
за авторством: Sharon, Maheshwar
Опубліковано: (2016)

Recent topics on modeling of semiconductor processes, devices, and circuits
за авторством: Onur Topaloglu, Rasit
Опубліковано: (2011)

Transparent oxide electronics from materials to devices /
Опубліковано: (2012)

Silicon carbide power devices
за авторством: Baliga, B. Jayant, 1948-
Опубліковано: (2005)

SiC materials and devices.
Опубліковано: (2006)

Breakdown phenomena in semiconductors and semiconductor devices
за авторством: Levinshteĭn, M. E. (Mikhail Efimovich)
Опубліковано: (2005)

ESD : analog circuits and design /
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2015)

ESD design and synthesis /
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2011)

Compound semiconductor bulk materials and characterizations
за авторством: Oda, O.
Опубліковано: (2007)

Materials for high-temperature semiconductor devices
Опубліковано: (1995)

The story of semiconductors
за авторством: Orton, J. W. (John Wilfred)
Опубліковано: (2004)

CMOS RF modeling, characterization and applications
Опубліковано: (2002)

Semiconductor materials an introduction to basic principles /
за авторством: Yacobi, B. G.
Опубліковано: (2003)

Advances in III-V semiconductor nanowires and nanodevices
Опубліковано: (2011)

Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits
за авторством: Ker, Ming-Dou
Опубліковано: (2009)

Nitride semiconductor devices fundamentals and applications /
за авторством: Morkoç, Hadis
Опубліковано: (2013)

Silicon technologies ion implantation and thermal treatment /
Опубліковано: (2011)

Handbook of distributed feedback laser diodes /
за авторством: Morthier, Geert, та інші
Опубліковано: (2013)

GaN-based materials and devices growth, fabrication, characterization and performance /
Опубліковано: (2004)

Compound semiconductor bulk materials and characterizations
за авторством: Oda, Osamu
Опубліковано: (2012)

Transistors types, materials, and applications /
Опубліковано: (2010)

Semiconductor electrochemistry /
за авторством: Memming, Rüdiger, 1931-
Опубліковано: (2015)

Characterizations of as grown and functionalized epitaxial graphene grown on SiC surfaces /
за авторством: Xia, Chao
Опубліковано: (2015)

Compound semiconductor integrated circuits
Опубліковано: (2003)

Semiconductor packaging materials interaction and reliability /
Опубліковано: (2011)

Advances in silicon carbide processing and applications
Опубліковано: (2004)

III-nitride semiconductor materials /
Опубліковано: (2006)

Advances in semiconducting materials /
Опубліковано: (2009)

MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
за авторством: Chen, Jr-Tai
Опубліковано: (2015)

MOCVD growth of GaN-based high electron mobility transistor structures /
за авторством: Chen, Jr-Tai
Опубліковано: (2015)

Geometric models for rolling-shutter and push-broom sensors /
за авторством: Ringaby, Erik
Опубліковано: (2014)

Electrical characterization of organic electronic materials and devices
за авторством: Stallinga, Peter, 1966-
Опубліковано: (2009)

Fundamentals of silicon carbide technology : growth, characterization, devices and applications /
за авторством: Kimoto, Tsunenobu, 1963-, та інші
Опубліковано: (2014)

ESD circuits and devices /
за авторством: Voldman, Steven H.
Опубліковано: (2006)

Handbook of wafer bonding
Опубліковано: (2012)

Modellierung der parasitaren passiven elemente in IGBT-Hochleistungsmodulen /
за авторством: Heeb, Michael
Опубліковано: (2014)

Selected semiconductor research
за авторством: Li, Ming-Fu
Опубліковано: (2011)

CMOS technology
Опубліковано: (2011)

Hybrid CMOS single-electron-transistor device and circuit design
за авторством: Mahapatra, Santanu
Опубліковано: (2006)