Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Voldman, Steven H.
Coauteur: ebrary, Inc
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Reeks:ESD series
Onderwerpen:
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items