Electrical overstress (EOS) devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Voldman, Steven H.
Yhteisötekijä: ebrary, Inc
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Sarja:ESD series
Aiheet:
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

Samankaltaisia teoksia