Trích dẫn kiểu APA (xuất bản lần thứ 7)
Wong, T. K. S. (2012). Semiconductor strain metrology: Principles and applications. Bentham Science.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)
Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL: Bentham Science, 2012.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)
Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. Bentham Science, 2012.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.