Wong, T. K. S. (2012). Semiconductor strain metrology: Principles and applications. Bentham Science.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL: Bentham Science, 2012.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. Bentham Science, 2012.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.