Citace podle APA (7th ed.)

Wong, T. K. S. (2012). Semiconductor strain metrology: Principles and applications. Bentham Science.

Citace podle Chicago (17th ed.)

Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] ; Oak Park, IL: Bentham Science, 2012.

Citace podle MLA (9th ed.)

Wong, Terence K. S. Semiconductor Strain Metrology: Principles and Applications. Bentham Science, 2012.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..