Advanced mathematical & computational tools in metrology & testing VIII
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Autores corporativos: | , |
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Outros Autores: | |
Formato: | Recurso Eletrônico Anais de Congresso livro eletrônico |
Idioma: | inglês |
Publicado em: |
Singapore ; Hackensack, NJ :
World Scientific,
c2009.
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coleção: | Series on advances in mathematics for applied sciences ;
v. 78. |
Assuntos: | |
Acesso em linha: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
Tags: |
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