ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Співавтори: International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
Формат: Електронний ресурс Матеріали конференцій eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
Предмети:
Онлайн доступ:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!