ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
Materyal Türü: Elektronik Konferans Sunumu Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
Konular:
Online Erişim:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!