ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteurs: International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
Formaat: Elektronisch Conferentie akten E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
Onderwerpen:
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!