ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

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書誌詳細
共著者: International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
フォーマット: 電子媒体 会議録 eBook
言語:英語
出版事項: Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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