תמונות העטיפה

ISTFA '96 proceedings of the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis : 18-22 November 1996, Los Angeles, California.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Corporate Authors: International Symposium for Testing and Failure Analysis Los Angeles, Calif., ASM International. Electronic Materials and Processing Division, ebrary, Inc
פורמט: אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Materials Park, Ohio : ASM International, c1996.
נושאים:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור
תיאור פיזי:xiv, 417 p. : ill.

פריטים דומים