ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /

Сохранить в:
Библиографические подробности
Корпоративные авторы: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Электронный ресурс Материалы конференции eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Materials Park, OH : ASM International, c2005.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!