صورة الغلاف

ISTFA 2005 Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis, Movember 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: International Symposium for Testing and Failure Analysis San Jose, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
التنسيق: الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Materials Park, OH : ASM International, c2005.
الموضوعات:
Electronics > Materials > Testing > Congresses.
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses.
Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
وصف مادي:xviii, 524 p. : ill.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references and index.

مواد مشابهة