ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Corporate Authors: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
פורמט: אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Materials Park, OH : ASM International, c1999.
נושאים:
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!