ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Coauteurs: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Formaat: Elektronisch Conferentie akten E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Materials Park, OH : ASM International, c1999.
Onderwerpen:
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!