ISTFA '99 proceedings of the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 14-18 November 1999, Westin Hotel, Santa Clara, California.

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Materials Park, OH : ASM International, c1999.
Schlagworte:
Online-Zugang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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