ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակներ: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային Գիտաժողովի նյութեր էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!