ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Співавтори: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Електронний ресурс Матеріали конференцій eКнига
Мова:Англійська
Опубліковано: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Предмети:
Онлайн доступ:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Опис
Опис примірника:Sponsored by EDFAS, ISTFA.
Фізичний опис:xix, 485 p. : ill.
Бібліографія:Includes bibliographical references and index.