ISTFA 2001 proceedings of the 27th International Symposium for Testing and Failure Analysis : 11-15 November 2001, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συλλογικό Έργο: International Symposium for Testing and Failure Analysis Santa Clara, Calif., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Πρακτικό Συνεδρίου Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Materials Park, OH : ASM International, c2001.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
Περιγραφή
Περιγραφή τεκμηρίου:Sponsored by EDFAS, ISTFA.
Φυσική περιγραφή:xix, 485 p. : ill.
Βιβλιογραφία:Includes bibliographical references and index.