ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

保存先:
書誌詳細
共著者: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
フォーマット: 電子媒体 会議録 eBook
言語:英語
出版事項: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
主題:
オンライン・アクセス:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
タグ: タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!