ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Сохранить в:
Библиографические подробности
Корпоративные авторы: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
Формат: Электронный ресурс Материалы конференции eКнига
Язык:английский
Опубликовано: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
Предметы:
Online-ссылка:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
Search Result 1

ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

Опубликовано 2000
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Электронный ресурс Материалы конференции eКнига