ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
مؤلفون مشاركون: International Symposium for Testing and Failure Analysis Bellevue, Wash., ASM International, Electronic Device Failure Analysis Society, ebrary, Inc
التنسيق: الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Materials Park, OH : ASM International, c2000.
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Search Result 1

ISTFA 2000 proceedings of the 26th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 12-16 November 2000, Meydenbauer Convention Center, Bellevue, Washington.

منشور في 2000
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
الكتروني وقائع المؤتمر كتاب الكتروني