Beeld op de omslag

ESD failure mechanisms and models /

Toon andere (1) versies
Bewaard in:
Hoofdauteur: Voldman, Steven H.
Coauteur: ebrary, Inc
Formaat: Elektronisch E-boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Chichester, West Sussex, U.K. ; Hoboken, NJ : J. Wiley, 2009.
Onderwerpen:
Semiconductors > Failures.
Integrated circuits > Protection.
Integrated circuits > Testing.
Integrated circuits > Reliability.
Electric discharges.
Electrostatics.
Electronic books.
Online toegang:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Beeld op de omslag

ESD failure mechanisms and models / door Voldman, Steven H.

Gepubliceerd in 2009.
An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Elektronisch E-boek
Toevoegen aan favorieten
Bewaard in:
Toon alle (2) versies

Gelijkaardige items