Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| সংস্থা লেখক: | |
| অন্যান্য লেখক: | |
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
Boston :
Artech House,
2007.
|
| মালা: | Artech House microwave library.
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| ট্যাগগুলো: |
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
অনুরূপ উপাদানগুলি: Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices
- Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices
- Designing SOCs with configured cores unleashing the Tensilica Xtensa and diamond cores /
- Designing SOCs with configured cores unleashing the Tensilica Xtensa and diamond cores /
- Designer's guide to the Cypress PSoC
- Designer's guide to the Cypress PSoC
- Production testing of RF and system-on-a-chip devices for wireless communications