Kelly, J., & Engelhardt, M. (2007). Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices. Artech House.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle Chicago (17th ed.)
Kelly, Joe, a M. Engelhardt. Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices. Boston: Artech House, 2007.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle MLA (9th ed.)
Kelly, Joe, a M. Engelhardt. Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices. Artech House, 2007.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..