APA-referens (7:e uppl.)
Kelly, J., & Engelhardt, M. (2007). Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices. Artech House.
Chicago-referens (17:e uppl.)
Kelly, Joe, och M. Engelhardt. Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices. Boston: Artech House, 2007.
MLA-referens (9:e uppl.)
Kelly, Joe, och M. Engelhardt. Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices. Artech House, 2007.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.