Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
Salvato in:
| Ente Autore: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Natura: | Elettronico eBook |
| Lingua: | inglese |
| Pubblicazione: |
Cambridge ; New York :
Cambridge University Press,
2000.
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!
|
| Descrizione fisica: | xii, 391 p. : ill. |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical references. |