Digital System Test and Testable Design Using HDL Models and Architectures /
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلف مشترك: | |
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Boston, MA :
Springer US,
2011.
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7548-5 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة: Digital System Test and Testable Design
- Demystifying chipmaking
- Formal methods in circuit design /
- Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
- Mathematical foundations for linear circuits and systems in engineering /
- Comprehensive functional verification the complete industry cycle
- Nonlinear transistor model parameter extraction techniques