ebrary, Inc, Schrimpf, R. D., & Fleetwood, D. M. (2004). Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices. World Scientific Pub..
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Chicago Style (17th ed.) Zitazioa
ebrary, Inc, Ronald Donald Schrimpf, eta D. M. Fleetwood. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. Singapore ; New Jersey: World Scientific Pub., 2004.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
MLA (9th ed.) Zitazioa
ebrary, Inc, et al. Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices. World Scientific Pub., 2004.
Ondo kopiatu da
Kopiatzeak huts egin du
Kontuz: berrikusi erreferentzia hauek erabili aurretik.