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Proceedings of the International Symposium on Topological Aspects of Critical Systems and Networks, Sapporo, Japan, 13-14 February 2006

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Autores Corporativos: International Symposium on Topological Aspects of Critical Systems and Networks Sapporo-shi, Japan, ebrary, Inc
Otros Autores: Yakubo, K. (Kousuke)
Formato: Electrónico Procedimiento de la Conferencia eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2007.
Materias:
System analysis > Congresses.
Topology > Congresses.
Electronic books.
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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Descripción Física:xii, 266 p. : ill. (some col.)
Bibliografía:Includes bibliographical references and index.

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