תמונות העטיפה
QR Code

Proceedings of the International Symposium on Topological Aspects of Critical Systems and Networks, Sapporo, Japan, 13-14 February 2006

Show other versions (1)
שמור ב:
Corporate Authors: International Symposium on Topological Aspects of Critical Systems and Networks Sapporo-shi, Japan, ebrary, Inc
מחברים אחרים: Yakubo, K. (Kousuke)
פורמט: אלקטרוני Conference Proceeding ספר אלקטרוני
שפה:אנגלית
יצא לאור: Singapore ; Hackensack, NJ : World Scientific, c2007.
נושאים:
System analysis > Congresses.
Topology > Congresses.
Electronic books.
גישה מקוונת:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
תיאור פיזי:xii, 266 p. : ill. (some col.)
ביבליוגרפיה:Includes bibliographical references and index.

פריטים דומים