Kansikuva

Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars Papers in Honour of John P. Keeves /

Näytä muut versiot (1)
Tallennettuna:
Päätekijä: Maclean, Rupert
Yhteisötekijä: SpringerLink (Online service)
Muut tekijät: Watanabe, Ryo, Baker, Robyn, Boediono, Cheng, Yin Cheong, Duncan, Wendy, Keeves, John, Mansheng, Zhou, Power, Colin, Rajput, J. S., Thaman, Konai Helu, Alagumalai, Sivakumar, Curtis, David D., Hungi, Njora
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Dordrecht : Springer Netherlands, 2005.
Sarja:Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects ; 4
Aiheet:
Education.
Distribution (Probability theory).
Comparative education.
Education (general).
Comparative Education.
Probability Theory and Stochastic Processes.
Linkit:http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3076-2
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
Ulkoasu:digital.
ISBN:9781402030765
DOI:10.1007/1-4020-3076-2

Samankaltaisia teoksia