Applied Rasch Measurement: A Book of Exemplars Papers in Honour of John P. Keeves /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Maclean, Rupert
Ente Autore: SpringerLink (Online service)
Altri autori: Watanabe, Ryo, Baker, Robyn, Boediono, Cheng, Yin Cheong, Duncan, Wendy, Keeves, John, Mansheng, Zhou, Power, Colin, Rajput, J. S., Thaman, Konai Helu, Alagumalai, Sivakumar, Curtis, David D., Hungi, Njora
Natura: Elettronico eBook
Lingua:inglese
Pubblicazione: Dordrecht : Springer Netherlands, 2005.
Serie:Education in the Asia-Pacific Region: Issues, Concerns and Prospects ; 4
Soggetti:
Accesso online:http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-3076-2
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Descrizione
Descrizione fisica:digital.
ISBN:9781402030765
DOI:10.1007/1-4020-3076-2