Optimization of in-line defect detection by eddy current techniques

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Rahman, Mehbub-Ur
Müşterek Yazar: ProQuest (Firm)
Materyal Türü: Tez Elektronik Ekitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Kassel [Germany] : Kassel University Press, 2011.
Konular:
Online Erişim:Click to View
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!