Obálka

QR kód

Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /

Zobrazit další vydání (1)

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Wolstenholme, John (Autor)
Médium:	Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York, [New York] (222 East 46th Street, New York, NY 10017) : Momentum Press, 2015.
Edice:	Materials characterization and analysis collection.
Témata:	Auger electron spectroscopy. analytical methods Auger electron spectroscopy (AES) Auger spectrometers chemical imaging depth profiling energy analyzer interface analysis materials analysis microanalysis nanoanalysis scanning Auger microscopy (SAM) secondary electron microscopy spectrometer surface analysis surface sensitive surface specific thin film analysis ultrahigh vacuum
On-line přístup:	An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Obálka

Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films / Autor Wolstenholme, John

Vydáno 2015

An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view

Elektronický zdroj E-kniha