Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /
Đã lưu trong:
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Định dạng: | Điện tử eBook |
| Ngôn ngữ: | Tiếng Anh |
| Được phát hành: |
New York, [New York] (222 East 46th Street, New York, NY 10017) :
Momentum Press,
2015.
|
| Loạt: | Materials characterization and analysis collection.
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Mục lục:
- 1. Introduction
- 2. The interaction of electrons with solid materials
- 3. AES methodologies
- 4. Instrumentation for auger analysis
- 5. Auger electron spectroscopy in materials analysis
- 6. Analytical methods for the characterization of materials
- Appendix 1. Abbreviations and acronyms
- Appendix 2. Quantum numbers
- Appendix 3. Comparison of surface and thin film analysis techniques
- Appendix 4. Standardization in surface analysis
- Appendix 5. Sources of the figures
- Further reading
- Index.