প্রচ্ছদ

Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films /

অন্যান্য সংস্করণ প্রদর্শন করুন (1)
সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Wolstenholme, John (লেখক)
বিন্যাস: বৈদ্যুতিক বৈদ্যুতিন গ্রন্থ
ভাষা:ইংরেজি
প্রকাশিত: New York, [New York] (222 East 46th Street, New York, NY 10017) : Momentum Press, 2015.
মালা:Materials characterization and analysis collection.
বিষয়গুলি:
Auger electron spectroscopy.
analytical methods
Auger electron spectroscopy (AES)
Auger spectrometers
chemical imaging
depth profiling
energy analyzer
interface analysis
materials analysis
microanalysis
nanoanalysis
scanning Auger microscopy (SAM)
secondary electron microscopy
spectrometer
surface analysis
surface sensitive
surface specific
thin film analysis
ultrahigh vacuum
অনলাইন ব্যবহার করুন:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
সূচিপত্রের সারণি:
  • 1. Introduction
  • 2. The interaction of electrons with solid materials
  • 3. AES methodologies
  • 4. Instrumentation for auger analysis
  • 5. Auger electron spectroscopy in materials analysis
  • 6. Analytical methods for the characterization of materials
  • Appendix 1. Abbreviations and acronyms
  • Appendix 2. Quantum numbers
  • Appendix 3. Comparison of surface and thin film analysis techniques
  • Appendix 4. Standardization in surface analysis
  • Appendix 5. Sources of the figures
  • Further reading
  • Index.

অনুরূপ উপাদানগুলি