Gray, K., & Paschkewitz, J. J. (2016). Next generation HALT and HASS: Robust design of electronics and systems. Wiley.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Chicago Style (17. basım) Atıf
Gray, Kirk, ve John James Paschkewitz. Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems. Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ: Wiley, 2016.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
MLA (9th ed.) Atıf
Gray, Kirk, ve John James Paschkewitz. Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems. Wiley, 2016.
Panoya başarıyla kopyalandı
Panoya kopyalama başarısız oldu
Uyarı: Bu alıntı herzaman %100 doğru olmayabilir..