Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , |
|---|---|
| التنسيق: | الكتروني كتاب الكتروني |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Weinheim, Germany :
Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA,
2014.
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة: Fringe pattern analysis for optical metrology :
- Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
- Mathematical foundations of image processing and analysis 1 /
- Mathematical foundations of image processing and analysis 1 /
- Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
- Extending the reach of powder diffraction modelling by user defined macros : special topic volume with invited peer reviewed papers only /
- Modern diffraction methods