From artefacts to atoms : the BIPM and the search for ultimate measurement standards /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | אלקטרוני ספר אלקטרוני |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Oxford ; New York :
Oxford University Press,
[2012]
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תאור פריט: | Includes index. |
|---|---|
| תיאור פיזי: | 1 online resource (464 pages) : illustrations |
| ISBN: | 9780199909919 (e-book) |