From artefacts to atoms : the BIPM and the search for ultimate measurement standards /
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| Auteur principal: | |
|---|---|
| Format: | Électronique eBook |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Oxford ; New York :
Oxford University Press,
[2012]
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| Sujets: | |
| Accès en ligne: | An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view |
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| Description: | Includes index. |
|---|---|
| Description matérielle: | 1 online resource (464 pages) : illustrations |
| ISBN: | 9780199909919 (e-book) |