Linear integrated circuits /
שמור ב:
| מחבר ראשי: | Choudhury, D. Roy |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Jain, Shail B. |
| פורמט: | ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
New Delhi :
New Age International (P) Ltd., Publishers,
2017.
|
| מהדורה: | 3rd ed. |
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
פריטים דומים
Linear integrated circuits /
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017)
Analog circuits
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Analog circuits
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Analog circuit design
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Analog circuit design
יצא לאור: (2013)
יצא לאור: (2013)
Current sources & voltage references
מאת: Harrison, Linden T.
יצא לאור: (2005)
מאת: Harrison, Linden T.
יצא לאור: (2005)
Current sources & voltage references
מאת: Harrison, Linden T.
יצא לאור: (2005)
מאת: Harrison, Linden T.
יצא לאור: (2005)
Analog circuit design a tutorial guide to applications and solutions /
יצא לאור: (2011)
יצא לאור: (2011)
Analog circuit design a tutorial guide to applications and solutions /
יצא לאור: (2011)
יצא לאור: (2011)
Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
Adaptive cooling of integrated circuits using digital microfluidics
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
מאת: Paik, Philip Y.
יצא לאור: (2007)
Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
Compact models for integrated circuit design : conventional transistors and beyond /
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
מאת: Saha, Samar K.
יצא לאור: (2016)
Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2003)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)
Wafer-level testing and test during burn-in for integrated circuits
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)
מאת: Bahukudumbi, Sudarshan
יצא לאור: (2010)
Digital integrated circuits : analysis and design /
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
Digital integrated circuits : analysis and design /
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
מאת: Ayers, John E.
יצא לאור: (2010)
Radio-frequency integrated-circuit engineering /
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
Radio-frequency integrated-circuit engineering /
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
מאת: Nguyen, Cam
יצא לאור: (2015)
Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
Designing bipolar transistor radio frequency integrated circuits
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
מאת: Sweet, Allen A., 1943-
יצא לאור: (2008)
High-speed integrated circuit technology towards 100 GHz logic /
יצא לאור: (2001)
יצא לאור: (2001)
High-speed integrated circuit technology towards 100 GHz logic /
יצא לאור: (2001)
יצא לאור: (2001)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
Digital circuit analysis and design with simulink modeling
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
מאת: Karris, Steven T.
יצא לאור: (2007)
Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2010)
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2010)
Radio frequency integrated circuit design
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2010)
מאת: Rogers, John (John W. M.)
יצא לאור: (2010)
Lumped elements for RF and microwave circuits
מאת: Bahl, I. J.
יצא לאור: (2003)
מאת: Bahl, I. J.
יצא לאור: (2003)
Lumped elements for RF and microwave circuits
מאת: Bahl, I. J.
יצא לאור: (2003)
מאת: Bahl, I. J.
יצא לאור: (2003)
Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
Power-constrained testing of VLSI circuits
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
מאת: Nicolici, Nicola
יצא לאור: (2003)
Microelectronic circuit design /
מאת: Jaeger, Richard C.
יצא לאור: (2006)
מאת: Jaeger, Richard C.
יצא לאור: (2006)
Microelectronic circuit design /
מאת: Jaeger, Richard C.
יצא לאור: (2006)
מאת: Jaeger, Richard C.
יצא לאור: (2006)
VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
VLSI circuits for biomedical applications
יצא לאור: (2008)
יצא לאור: (2008)
Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
Alternative computer chips post-silicon circuits.
יצא לאור: (2003)
יצא לאור: (2003)
Design of analog-digital VLSI circuits for telecommunications and ... /
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)
מאת: Franca, Jose E.
יצא לאור: (1994)
פריטים דומים
-
Linear integrated circuits /
מאת: Choudhury, D. Roy
יצא לאור: (2017) -
Analog circuits
יצא לאור: (2008) -
Analog circuits
יצא לאור: (2008) -
Analog circuit design
יצא לאור: (2013) -
Analog circuit design
יצא לאור: (2013)