Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudskapare: Gray, Kirk (Författare, medförfattare), Paschkewitz, John James (Författare, medförfattare)
Materialtyp: Elektronisk E-bok
Språk:engelska
Publicerad: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Serie:Wiley series in quality and reliability engineering.
Ämnen:
Länkar:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!