Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Gray, Kirk (Autor), Paschkewitz, John James (Autor)
Format: Elektroniczne E-book
Język:angielski
Wydane: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Seria:Wiley series in quality and reliability engineering.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!