Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

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Auteurs principaux: Gray, Kirk (Auteur), Paschkewitz, John James (Auteur)
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Collection:Wiley series in quality and reliability engineering.
Sujets:
Accès en ligne:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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