Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijät: Gray, Kirk (Tekijä), Paschkewitz, John James (Tekijä)
Aineistotyyppi: Elektroninen E-kirja
Kieli:englanti
Julkaistu: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Sarja:Wiley series in quality and reliability engineering.
Aiheet:
Linkit:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!