Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gray, Kirk (Autor), Paschkewitz, John James (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Colección:Wiley series in quality and reliability engineering.
Materias:
Acceso en línea:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
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