Կազմի պատկեր

Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Gray, Kirk (Հեղինակ), Paschkewitz, John James (Հեղինակ)
Ձևաչափ: Էլեկտրոնային էլ․ գիրք
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Շարք:Wiley series in quality and reliability engineering.
Խորագրեր:
Accelerated life testing.
Electronic systems > Design and construction.
Electronic systems > Testing.
Electronic books.
Առցանց հասանելիություն:An electronic book accessible through the World Wide Web; click to view
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
Բովանդակություն:
  • Basis and limitations of typical current reliability methods & metrics
  • The need for reliability assurance metrics to change
  • Challenges to advancing electronics reliability engineering
  • A new deterministic reliability development paradigm
  • Common understanding of HALT approach is critical for success
  • The fundamentals of HALT
  • Highly accelerated stress screening (HALT) and audits (HASA)
  • HALT benefits for software/firmware performance and reliability
  • Quantitative accelerated life test
  • Failure analysis and corrective action
  • Additional applications of HALT methods.

Նմանատիպ նյութեր